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J.A.Woollam光譜型橢偏儀電源維修M-2000XI

M-2000系列光譜橢圓儀是為滿足薄膜表征的需求而設(shè)計(jì)的。RCE技術(shù)結(jié)合了旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器橢圓儀和CCD檢測(cè)，在幾分之一秒內(nèi)收集整個(gè)光譜（數(shù)百個(gè)波長(zhǎng)），并有多種配置。擅長(zhǎng)于從原位監(jiān)測(cè)和過(guò)程控制到大面積均勻性繪圖和通用薄膜表征的橢偏儀。光譜檢測(cè)RCE設(shè)計(jì)與CCD檢測(cè)兼容，可同時(shí)測(cè)量波長(zhǎng)。光譜范圍采集從紫外線到近紅外的700多個(gè)波長(zhǎng)同時(shí)采集。 適合直接連接到您的工藝室或配置在我們的桌面底座上，進(jìn)行準(zhǔn)確的橢圓測(cè)量。

美國(guó)J.A.Woollam光譜橢圓儀電源維修；M-2000旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償橢偏儀高壓發(fā)生器維修。

應(yīng)用范圍材料：半導(dǎo)體、電介質(zhì)、聚合物、金屬、多層等。

可選光譜范圍：

V型 370－1000nm

U型 245－1000nm

D型 193－1000nm

紅外擴(kuò)展 1000－1700nm

可選變角：手動(dòng)連續(xù)可變；自動(dòng)連續(xù)可變

微光斑選件：25×60微米

光譜型橢偏儀維修類型如下：

1、M-2000 光譜型橢偏儀

無(wú)論是科研還是工業(yè)生產(chǎn)，M-2000都可以滿足您的需求，多樣的配置選項(xiàng)滿足不同用戶的要求。旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償技術(shù)確定Delta的準(zhǔn)確測(cè)量，CCD列陣的使用使全光譜掃描可在幾秒中內(nèi)完成。

2、Alpha-SE 光譜型橢偏儀

α-SE是一款高性價(jià)比的光譜型橢偏儀。簡(jiǎn)約設(shè)計(jì)，理想的薄膜分析工具。計(jì)算機(jī)通過(guò)通訊口控制儀器、數(shù)據(jù)采集。配置易用的數(shù)據(jù)分析軟件，易于使用，帶有選項(xiàng)的按鈕式操作軟件技術(shù)，基于旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償技術(shù)，十秒內(nèi)完成180個(gè)波長(zhǎng)的測(cè)量及數(shù)據(jù)的擬合 功能強(qiáng) 提供厚度、光學(xué)常數(shù)、表面粗糙、界面層等數(shù)據(jù)應(yīng)用范圍，適用于可見(jiàn)光譜段薄膜的研究及日常工藝控制。

3、V-VASE 光譜型橢偏儀

V-VASE是一款自動(dòng)可變角，單色儀分光的光譜橢偏儀�？蓱�(yīng)用于半導(dǎo)體、電介質(zhì)、聚合物、金屬、等薄膜的研究和分析。自動(dòng)相位延遲技術(shù)做到了測(cè)量準(zhǔn)確性，測(cè)試重復(fù)性。具有靈活多變測(cè)試功能的V-VASE可用于研究中。

3、IR-VASE 光譜型橢偏儀

IR-VASE可應(yīng)用于紅外材料光學(xué)特性的測(cè)量及分析，IR-VASE在半導(dǎo)體上可應(yīng)用于摻雜濃度的測(cè)量。超寬光譜適合多種紅外材料，旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償技術(shù)做到了測(cè)試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。IR-VASE是紅外橢偏儀中的產(chǎn)品。

5、VUV-VASE 光譜型橢偏儀

UVV-VASE是一款真空紫外橢偏儀，通常用來(lái)測(cè)量及研究薄膜的紫外光學(xué)特性，如光刻膠等。

6、T-solar 光譜型橢偏儀

T-Solar是為光伏行業(yè)量身定制的一款光譜橢偏儀，無(wú)論是硅電池（絨面）還是薄膜電池，都可以用T-Solar來(lái)測(cè)量。